低频电磁检测技术LFET（Low Frequency Electromagnetic Technique）使用离散的激励和接收传感器，在较低的频率（≤10Hz）下激发产生一个交变电磁场，并穿透被测材料，根据缺陷产生机理研究出相应信息处理技术和显示手段，从而得出更可靠的缺陷信息。
这种技术相对其他传统方法磁泄漏(MFL)及超声(UT)有许多优优越性，主要用于常压储罐底板的检测。